Dispositivo para medir la emisión, reflexión y transmisión de materiales dopados con iones activos

Patente pendiente número: MX/a/2013/014690

La invención trata de un dispositivo hibrido novedoso, el cual es llamado fluororeflectómetro, para medir la radiación de materiales dopados con átomos ópticamente activos, como los elementos de tierras raras.

Dicho dispositivo opera en dos modos. En el modo XL-λ, el instrumento mide la luminiscencia y el espectro de excitación de las muestras. En el modo RT- λ el instrumento mide el espectro de reflexión especular y el espectro de transmisión de capas delgadas o gruesas. Un fotomultiplicador (fotodiodo agrandado en UV) es utilizado cuando opera el modo XL-λ (RT- λ).

El ángulo de incidencia de la muestra y el ángulo de la emisión detectada puede ser cambiado en los dos modos; el primero se cambia manualmente y el segundo se hace automáticamente. La sensibilidad del instrumento permite medir la luminiscencia de capas delgadas con grosores desde 3 µm, en este caso la señal apenas sobrepasa el ruido.